Linear and nonlinear characterization of low-stress high-confinement silicon-rich nitride waveguides: erratum
Artikel i övrig tidskrift, 2017
We correct the value for the nonlinear Kerr effect of the silicon-rich nitride waveguide presented in Opt. Express 23, 25828 (2015).
Författare
Clemens Krückel
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Attila Fülöp
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Thomas Klintberg
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Jörgen Bengtsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Peter Andrekson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Victor Torres Company
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Optics Express
1094-4087 (ISSN) 10944087 (eISSN)
Vol. 25 7 7443-7444Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Nanovetenskap och nanoteknik
Materialvetenskap
Ämneskategorier
Kommunikationssystem
Nanoteknik
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1364/OE.25.007443