CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Cationic Disorder and Phase Segregation in LaAlO3/SrTiO3 Heterointerfaces Evidenced by Medium-Energy Ion Spectroscopy

Alexei Kalaboukhov (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Yuri Boikov (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Vladimir Popok ; I.T. Serenkov ; V.I. Sakharov ; Robert Gunnarsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Eva Olsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Nikolina Ljustina (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Johan Börjesson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Tord Claeson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Dag Winkler (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik)
Physical Review Letters (0031-9007). Vol. 103 (2009), 14, p. 146101.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Medium-energy ion spectroscopy (MEIS) has been used to study the depth profile and deduce the distribution of possible cationic substitutions in LaAlO3/SrTiO3 (LAO/STO) heterointerfaces. Analysis of La and Sr peaks in aligned and random MEIS spectra indicates that the surface layers of LAO on an STO substrate are not homogeneous and stoichiometric if the film thickness is less than 4 unit cell layers. This is possibly caused by a redistribution of La and Sr at the interface. Kelvin probe force microscopy reveals an inhomogeneous distribution of the surface potential in a 4 unit cell LAO film, indicating micrometer-sized regions of different compositions. Our findings provide a novel view on the microstructural origin of the electrically conductive interfaces.

Nyckelord: perovskite oxides; polar interfaces; 2DEG; MEIS;Kelvin probe AFM



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2009-10-01. Senast ändrad 2016-08-18.
CPL Pubid: 99300

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Institutionen för fysik (GU) (GU)
Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Nanovetenskap och nanoteknik
Ytor och mellanytor
Defekter och diffusion

Chalmers infrastruktur