CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Classification of energy levels in quantum dot structures by means of depletion layer spectroscopy methods

M Kaniewska ; Olof Engström (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik) ; M Kaczmarczyk
13th Internation Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, Wheeling, West Virginia, USA, September 13-17, 2009 (Invited) (2009)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2009-09-22.
CPL Pubid: 98505

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik (2007-2010)

Ämnesområden

Teknisk fysik
Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur