CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Cross-Sectional TEM Investigation of Nickel-Catalysed Carbon Nanotube Films Grown by Plasma Enhanced CVD

Yiming Yao (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys ; Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik) ; Lena K. L. Falk (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; R. E. Morjan (Institutionen för teknisk fysik) ; O. A. Nerushev (Institutionen för teknisk fysik) ; E. E. B. Campbell (Institutionen för teknisk fysik)
Journal of Microscopy Vol. 219 (2005), p. 69-75.
[Artikel, övrig populärvetenskap]


Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2006-08-28. Senast ändrad 2015-11-05.
CPL Pubid: 9775

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)
Institutionen för material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
Institutionen för teknisk fysik (1900-2015)

Ämnesområden

Materialvetenskap
Nanovetenskap och nanoteknik
Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur