CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

The microstructure of the affected zone of a worn PCBN cutting tool characterised with SEM and TEM

Jenny Angseryd (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Ernesto Coronel ; Mattias Elfwing ; Eva Olsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Hans-Olof Andrén (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Wear (0043-1648). Vol. 267 (2009), p. 1031-1040.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nyckelord: crater wear, adherent layer, microstructure, EDX, EFTEM, EELS



Denna post skapades 2009-08-19. Senast ändrad 2015-03-30.
CPL Pubid: 96187

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Övrig bearbetning/sammanfogning

Chalmers infrastruktur

Relaterade publikationer

Denna publikation ingår i:


Microstructure of a cubic boron nitride tool material and its degradation during hard turning operations