CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Analysis of interfaces in WC-Co with cubic carbide additions

Jonathan Weidow (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Hans-Olof Andrén (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Bo Jansson ; Jenni Zackrisson ; Susanne Norgren
17th Plansee Seminar, Eds. LS Sigl, P Rödhammer and H Wildner, Plansee Group, Reutte, Austria Vol. 2 (2009), p. HM3/1-8.
[Konferensbidrag, övrigt]

Nyckelord: TEM, EDX, APFIM, laser assisted atom probe



Denna post skapades 2009-08-19. Senast ändrad 2015-03-30.
CPL Pubid: 96167

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Övrig bearbetning/sammanfogning

Chalmers infrastruktur