CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

A new procedure for extraction of series resistances for bipolar transistors from DC measurements

Martin Linder ; Fredrik Ingvarson (Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik) ; Kjell Jeppson (Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik) ; Jan Grahn ; Shi-Li Zhang ; Mikael Östling
Proceedings of the 1999 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures p. 147-151. (1999)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15. Senast ändrad 2010-10-28.
CPL Pubid: 9373

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik (1997-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur