CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Stress and recovery transients in bipolar transistors and MOS structures

Fredrik Ingvarson (Institutionen för mikroelektronik) ; Lars-Åke Ragnarsson (Institutionen för mikroelektronik) ; Per Lundgren (Institutionen för mikroelektronik) ; Kjell Jeppson (Institutionen för mikroelektronik)
Proceedings of the 1999 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures p. 173-178. (1999)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15. Senast ändrad 2015-12-17.
CPL Pubid: 9372

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik (1995-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur