CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

A procedure for characterizing the BJT base resistance and Early voltages utilizing a dual base transistor test structure

Fredrik Ingvarson (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; Martin Linder ; Kjell Jeppson (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; Shi-Li Zhang ; Jan Grahn ; Mikael Östling
Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures p. 31-36. (2001)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15. Senast ändrad 2007-04-25.
CPL Pubid: 9369

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur