CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Extraction of emitter and base series resistances of bipolar transistors from a single DC measurement

Martin Linder ; Fredrik Ingvarson (Institutionen för mikroelektronik) ; Kjell Jeppson (Institutionen för mikroelektronik) ; Jan Grahn ; Shi-Li Zhang ; Mikael Östling
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol. 13 (2000), 2, p. 119-126.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2007-01-15. Senast ändrad 2017-01-27.
CPL Pubid: 9343

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik (1995-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur