CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Substrate Resistance Modeling for Noise Coupling Analysis

Simon Kristiansson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Shiva P. Kagganti (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Ewert Tony ; Fredrik Ingvarson (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; Olsson Jörgen ; Kjell Jeppson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik)
International Conference on Microelectronics Test Structures, Monterey, California, USA (2003)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15. Senast ändrad 2017-01-27.
CPL Pubid: 9303

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur

Relaterade publikationer

Denna publikation ingår i:


Substrate Noise Coupling in Mixed-Signal Integrated Circuits: Compact Modeling and Grounding Strategies


Substrate Noise Coupling Modelling in Mixed-Signal Integrated Circuits: A Surface Potential Approach