CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Noise performance of the radio-frequency single-electron transistor

L Roschier ; P Hakonen ; Kevin Bladh (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; P Delsing ; K Lehnert ; L Spietz ; RJ Schoelkopf
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS (0021-8979). Vol. 95 (2004), 3, p. 1274-1286.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nyckelord: balanced amplifiers, charge sensitivity, photon detector, device, limit, range



Denna post skapades 2009-01-28.
CPL Pubid: 89282

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap

Ämnesområden

Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur