CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Analysis of corrugated soft edges to reduce scattering from gaps between reflecting panels

Jan Carlsson ; Per-Simon Kildal (Institutionen för mikrovågsteknik)
IEEE AP-S International Symposium and URSI Science Meeting, Ann arbor, Michigan, USA, June 28 – July 2, 1993 p. 394-397. (1993)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2009-01-27. Senast ändrad 2010-12-17.
CPL Pubid: 89129

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikrovågsteknik (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur