CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Characterization of deep levels and quantum confined energy levels in InAs/GaAs quantum dot structures by electrical methods

M Kaniewska ; Olof Engström (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik) ; M Kaczmarczyk ; G Zaremba
ICCE 16, Kunming, China, July 2008 (2008)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2009-01-15.
CPL Pubid: 87426

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik (2007-2010)

Ämnesområden

Teknisk fysik
Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur