CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Comparative study of microstructure and microwave dielectric response of BaxSr1-xTiO3 films grown by pulsed laser deposition and magnetron sputtering

Andrei Vorobiev (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik) ; John Berge (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik) ; Spartak Gevorgian (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik)
Electroceramics XI, 31 August - 3 September 2008, Manchester, UK (2008)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2009-01-15. Senast ändrad 2014-09-02.
CPL Pubid: 87361

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik (2007-2010)

Ämnesområden

Funktionella material

Chalmers infrastruktur