CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Microstructure Investigation of Sn-Ag-Based Lead-Free Solder Joints by Electron Microscopy

L. L. Ye ; Zonghe Lai (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; Johan Liu (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; A. Thölén
Proceedings of the IMAPS Nordic Conference p. 180-187. (2002)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2009-01-13. Senast ändrad 2010-10-18.
CPL Pubid: 85638

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur