CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Comparison of Mechanical Fatigue Test and Thermal Cycling for Failure Analysis of Solder Joints

Xitao Wang ; Liu Chen ; Zonghe Lai (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; Johan Liu (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap)
Proceedings of The IMAPS Nordic 38th Annual Conference p. 70-77. (2001)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2009-01-13.
CPL Pubid: 85605

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur