CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Electrical Characterization of Isotropic Conductive Adhesive under Mechanical Deformation

Zhimin Mo ; Xitao Wang ; Tiebing Wang ; Shiming Li ; Zonghe Lai (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; Johan Liu (Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap)
Journal of Electronics Materials p. 916-920. (2002)
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2009-01-12. Senast ändrad 2010-10-18.
CPL Pubid: 85396

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur