CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Effect of different temperature cycle profiles on the crack initiation and propagation of Sn3,5Ag wave soldered joints

Cristina Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem) ; Dag R. Andersson ; Per-Erik Tegehall ; Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem)
Microelectronics Reliability Vol. 47 (2008), p. 266-272.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2008-12-22. Senast ändrad 2009-01-12.
CPL Pubid: 82507

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Bionanosystem (2007-2015)

Ämnesområden

Övrig elektroteknik, elektronik och fotonik

Chalmers infrastruktur