CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Excess low frequency noise in single-wall carbon nanotube

S. Soliveres ; A. Hoffmann ; F. Pascal ; C. Delseny ; Mohammad Kabir (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik) ; Omer Nur ; A. Salesse ; Magnus Willander ; J. Deen
FLUCTUATION AND NOISE LETTERS (0219-4775). Vol. 6 (2006), 1, p. L45-L55.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nyckelord: field-effect transistors, 1/f noise, transport, resistance, contact



Denna post skapades 2008-12-09. Senast ändrad 2009-10-09.
CPL Pubid: 80417

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)
Institutionen för fysik (GU) (GU)

Ämnesområden

Matematik
Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur