CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Defocus Convergent Beam Electron Diffraction Analysis of Dislocations in Mullite

Stefan Gustafsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys ; SuMo Biomaterials) ; Lena K. L. Falk (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Journal of Microscopy (0022-2720). Vol. 233 (2009), 2, p. 346-351.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2008-12-05. Senast ändrad 2016-03-21.
CPL Pubid: 79814

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)
SuMo Biomaterials

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur