CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

SiAlON Microstructures

Lena K. L. Falk (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
J. Ceram. Soc. Japan Vol. 116 (2008), 6, p. 685-687.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2008-12-05.
CPL Pubid: 79775

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur