CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Deep level transient spectroscopy in quantum dot characterization

Olof Engström (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik) ; M Kaniewska
Nanotech. Res. Lett. Vol. 3 (2008), p. 179.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2008-09-02.
CPL Pubid: 73442

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fysikalisk elektronik (2007-2010)

Ämnesområden

Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur