CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Electrical Characterization of Thermally Oxidized Silicon Carbide

Fredrik Allerstam (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
Göteborg : Chalmers University of Technology, 2008. ISBN: 978-91-7385-088-9.- 74 s.
[Doktorsavhandling]


Denna post skapades 2008-05-08. Senast ändrad 2013-09-25.
CPL Pubid: 70793