CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Polarization-based Monitoring in WDM Systems

Mats Sköld (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Bengt-Erik Olsson ; Magnus Karlsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Peter Andrekson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
Proceedings of Optoelectronics and Communications Conference p. 346-347. (2007)
[Konferensbidrag, övrigt]


Denna post skapades 2008-01-29. Senast ändrad 2014-09-02.
CPL Pubid: 67870

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Ämnesområden

Fotonik

Chalmers infrastruktur