CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Thermal instability of electron traps in InAs/GaAs quantum dot structures

M Kaniewska ; Olof Engström (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; M Kaczmarczyk ; G Zaremba
Proc. 11th international Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics of Semiconductors (DRIP), Berlin, september 2007 (2007)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2008-01-17. Senast ändrad 2008-04-21.
CPL Pubid: 67386

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap

Ämnesområden

Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur