CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Benchmarking of low band gap III-V based HEMTs and sub-100nm CMOS under low drain voltage regime

Sylvain Bollaert ; Ludovic Desplanque ; Xavier Wallart ; Yannick Roelens ; Mikael Malmkvist (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; Malin Borg (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; Eric Lefebvre (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; Jan Grahn (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; Derek Smith ; Gilles Dambrine
Proc. European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC) p. pp. 20-23. (2007)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2008-01-14.
CPL Pubid: 66023

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap

Ämnesområden

Elektronik

Chalmers infrastruktur