CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Thin foil analysis in the SEM

Mats Halvarsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Torbjörn Jonsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Sead Canovic (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Journal of Physics, Conference Series (1742-6588). p. 4. (2008)
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

This paper explores the possibilities for imaging and chemical analysis of thin foil specimens in the SEM. Bright field and dark field imaging provide high resolution imaging with crystallographic information within the grains. In multiphase materials with varying electron transmission the dark field images generally provide a more even contrast in all phases. It is possible to obtain high-quality quantitative EDX data with high spatial resolution.



Denna post skapades 2007-12-20. Senast ändrad 2017-11-16.
CPL Pubid: 63665

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur