CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Thin foil analysis in the SEM

Mats Halvarsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Torbjörn Jonsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Sead Canovic (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Institute of Physiscs: Conference Series p. 4. (2008)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-12-20. Senast ändrad 2009-08-25.
CPL Pubid: 63665

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur