CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Grain contrast imaging in FIB and SEM

Sead Canovic (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Torbjörn Jonsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Mats Halvarsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Institute of Physics: Conference Series Vol. 126 (2008), 012054,
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-12-20. Senast ändrad 2009-01-08.
CPL Pubid: 63663

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur