CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Transmission electron microscopy and X-ray diffraction analysis of alumina coating by alternate-current inverted magnetron-sputtering technique

Aditya Aryasomayajula ; Sead Canovic (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Deepak Bhat ; Matt Gordon ; Mats Halvarsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Thin Solid Films Vol. 516 (2007), p. 397-401.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2007-12-20.
CPL Pubid: 63653

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Materialfysik med ytfysik

Chalmers infrastruktur