CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Energy concepts involved in MOS characterization

Olof Engström (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; T Gutt ; H.M. Przewlocki
Journal of Telecommunication and Information Technology Vol. 2 (2007), p. 86.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2007-09-20.
CPL Pubid: 49235

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik
Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur