CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Relation between charge carrier emission mechanisms and materials properties of InAs/GaAs quantum dots

Olof Engström (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; M Kaniewska ; W Jung ; M Kaczmarczyk
European materials Research Society Meeting, Strasbourg, may 2007 (2007)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-09-20.
CPL Pubid: 49018

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap

Ämnesområden

Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur