CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Electrical characterization of InAs/GaAs quantum dots by frequency spectroscopy

Olof Engström (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; Ali Eghtedari (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap) ; M Kaniewska
Materials Science and Engineering C Vol. 27 (2007), p. 936.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2007-09-19.
CPL Pubid: 48844

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik
Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur