CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Quantitative metallography of sigma phase precipitates in AISI 347 stainless steel - a comparison between different methods

Jenny Erneman (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Lars Nylöf ; Jan-Olof Nilsson (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys ; Extern) ; Hans-Olof Andrén (Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Materials Science and Technology Vol. 20 (2004), p. 1245-1251.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nyckelord: Volume fraction, Etching, Image analysis, SEM



Denna post skapades 2006-08-28. Senast ändrad 2015-03-30.
CPL Pubid: 4881

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys (1997-2004)

Ämnesområden

Materialteknik

Chalmers infrastruktur