CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

The deformation Characterization of Conductive Particles in Anisotropically Conductive Adhesive Using FEM

Liqiang Cao ; Yanli Wang ; Guoliang Chen ; Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik)
Proceedings of the IMAPS Nordic Annual Conference Vol. September (2004), 21-23, p. pp 92-97.
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15.
CPL Pubid: 3231

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur