CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

In situ TEM nanoindentation using a MEMS force sensor

Alexandra Nafari (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik ; Extern) ; Magnus Larsson ; Andrey Danilov (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik) ; Håkan Olin ; Krister Svensson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Peter Enoksson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik)
International Microscopy Congress 16, 2006 (2006)
[Konferensbidrag, refereegranskat]

Nyckelord: in situ TEM, nanoindentation, MEMS



Denna post skapades 2007-01-17.
CPL Pubid: 25801

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)
Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Elektronisk mät- och apparatteknik

Chalmers infrastruktur