CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

High resolution chemical analysis in SEM

Torbjörn Jonsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Sead Canovic (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Fang Liu (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; Mats Halvarsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
The 16th International Microscopy Congress (IMC16), September 3-8, 2006, Sapporo, Japan, H. Ichinose and T. Sasaki (eds), page 892 (2006)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15.
CPL Pubid: 25584

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Övrig teknisk materialvetenskap

Chalmers infrastruktur