CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Analysis of bulk dielectrics with atom probe tomography

D. J. Larson ; R. L. Alvis ; D. F. Lawrence ; T. J. Prosa ; R. M. Ulfig ; D. A. Reinhard ; P. H. Clifton ; S. S A Gerstl ; J. H. Bunton ; D. R. Lenz ; T. F. Kelly ; Krystyna Stiller (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Microscopy and Microanalysis (14319276). Vol. 14 (2008), SUPPL. 2, p. 1254-1255.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

[No abstract available]



Denna post skapades 2017-12-28.
CPL Pubid: 254137

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Fysik

Chalmers infrastruktur