CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

XPS Depth Profiling of Air-Oxidized Nanofilms of NbN on GaN Buffer-Layers

AV Lubenchenko ; AA Batrakov ; Sascha Krause (Institutionen för rymd-, geo- och miljövetenskap, Onsala rymdobservatorium, Avancerad mottagarutveckling ; Institutionen för rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling) ; Alexey Pavolotsky (Institutionen för rymd-, geo- och miljövetenskap, Onsala rymdobservatorium, Avancerad mottagarutveckling ; Institutionen för rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling) ; IV Shurkaeva ; DA Ivanov ; OI Lubenchenko
Journal of Physics, Conference Series (1742-6588). Vol. 917 (2017), p. 092001-1 - 092001-7.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

XPS depth chemical and phase profiling of an air-oxidized niobium nitride thin film on a buffer-layer GaN is performed. It is found that an intermediate layer of Nb5N6 and NbON x under the layer of niobium oxide is generated.I



Denna post skapades 2017-12-27. Senast ändrad 2018-01-11.
CPL Pubid: 254111

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för rymd-, geo- och miljövetenskap, Onsala rymdobservatorium, Avancerad mottagarutveckling
Institutionen för rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling (2010-2017)

Ämnesområden

Den kondenserade materiens fysik
Ytor och mellanytor
Supraledning

Chalmers infrastruktur

NFL/Myfab (Nanofabrication Laboratory)
Onsala rymdobservatorium