CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

In-Situ TEM characterization of the effect of interfaces on charge transport in Cu(In,Ga)Se2 thin film solar cells

Gustaf Östberg (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys) ; E. Yucelen ; K. Svensson ; Eva Olsson (Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys)
Microscopy and Microanalysis (14319276). Vol. 15 (2009), SUPPL. 2, p. 712-713.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2017-11-17.
CPL Pubid: 253239

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys (2005-2012)

Ämnesområden

Teknisk fysik

Chalmers infrastruktur