CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Incorporation of Bi atoms in InP studied at the atomic scale by cross-sectional scanning tunneling microscopy

C Krammel ; M Roy ; F J Tilley ; P A Maksym ; L Y Zhang ; P Wang ; K Wang ; Y Y Li ; Shumin Wang (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; P M Koenraad
Physical Review Materials (2475-9953). Vol. 1 (2017), p. 34606.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2017-10-03.
CPL Pubid: 252217

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Ämnesområden

Nanoteknik

Chalmers infrastruktur