CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Transmission electron microscopy assessment of the Si enhancement of Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts to undoped AlGaN/GaN heterostructures

Vincent Desmaris (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Jin-Yu Shiu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Chung-Lu Lu ; Niklas Rorsman (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Herbert Zirath (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Edward-Yi Chang
Journal of Applied Physics Vol. 100 (2006), 3, p. 34904-1-4.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]


Denna post skapades 2007-01-08. Senast ändrad 2015-08-10.
CPL Pubid: 25018