CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Evaluating CNT-Based Interconnects : A Nummerical Tool to Characterize Hybrid CNT-Copper Interconnects

Silvia Bistarelli ; Shuangxi Sun (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ) ; Luca Pierantoni ; Stefano Bellucci ; Davide Mencarelli ; Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap ; Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ; Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
IEEE Microwave Magazine (15273342). Vol. 18 (2017), 4, p. 124-129.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nanotechnologies offer a vast number of applications due to the unique features of nanostructured materials [1]. In the electronics field, this new technology could open innovative ways to go beyond Moore's law [2], but progress in manufacturing technology still limits the wide dispersion of nanotechnology-based circuits. The bridge between nanoscience and realized devices can be achieved by modeling the multiphysics phenomena at the nanoscale, which will aid in the development of the technology. © 2017 IEEE.



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2017-06-14.
CPL Pubid: 249873

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)