CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Evaluating CNT-Based Interconnects : A Nummerical Tool to Characterize Hybrid CNT-Copper Interconnects

Silvia Bistarelli ; Shuangxi Sun (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ) ; Luca Pierantoni ; Stefano Bellucci ; Davide Mencarelli ; Johan Liu (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial och system ; Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
IEEE Microwave Magazine (15273342). Vol. 18 (2017), 4, p. 124-129.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Nanotechnologies offer a vast number of applications due to the unique features of nanostructured materials [1]. In the electronics field, this new technology could open innovative ways to go beyond Moore's law [2], but progress in manufacturing technology still limits the wide dispersion of nanotechnology-based circuits. The bridge between nanoscience and realized devices can be achieved by modeling the multiphysics phenomena at the nanoscale, which will aid in the development of the technology.

Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2017-06-14. Senast ändrad 2017-09-07.
CPL Pubid: 249873


Läs direkt!

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Denna publikation är ett resultat av följande projekt:

Graphene-Based Revolutions in ICT And Beyond (GRAPHENE) (EC/FP7/604391)