CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Linear and nonlinear characterization of low-stress high-confinement silicon-rich nitride waveguides: erratum

Clemens Krückel (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Attila Fülöp (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Thomas Klintberg (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Jörgen Bengtsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Peter Andrekson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Victor Torres Company (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
Optics Express (1094-4087). Vol. 25 (2017), 7, p. 7443-7444.
[Artikel, övrig vetenskaplig]

We correct the value for the nonlinear Kerr effect of the silicon-rich nitride waveguide presented in Opt. Express 23, 25828 (2015).


Erratum



Denna post skapades 2017-04-18. Senast ändrad 2017-05-08.
CPL Pubid: 248865

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)