CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

A new method of determining the effective channel width and its dependence on the gate voltage

Peter R. Karlsson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik) ; Kjell Jeppson (Institutionen för fasta tillståndets elektronik ; Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap) ; Anders Bogren (Institutionen för fasta tillståndets elektronik)
Proceedings of the IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures ICMTS Vol. 1996 (1996), 25-28 March 1996,
[Konferensbidrag, refereegranskat]

A novel and simple method for the extraction of the effective channel width and its dependence on the gate voltage is presented. Both synthetic and measured data have been used to evaluate the new method which is superior to previous methods in not assuming any particular width or gate voltage dependencies of the series resistance.

Nyckelord: Voltage, Electrical resistance measurement, Geometry, Integrated circuit measurements, Solid state circuits, Data mining, Particle measurements, Fluctuations, Performance evaluation, Robustness



Denna post skapades 2017-01-29.
CPL Pubid: 247816

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för fasta tillståndets elektronik (1985-1998)
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap (1900-2003)

Ämnesområden

Elektroteknik och elektronik

Chalmers infrastruktur