CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy of Bi Atoms in InP

CM Krammel ; K Wang ; Y Gu ; LY Zhang ; YY Li ; YX Song ; Q Gong ; Shumin Wang (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; PM Koenraad
42nd International Symposium on Compound Semiconductors, Santa Barbara, USA, June 28-July 2, 2015 (2015)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2016-10-20. Senast ändrad 2016-10-20.
CPL Pubid: 243785

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Ämnesområden

Fysik

Chalmers infrastruktur