CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Wideband RF characterization setup with high dynamic range low frequency measurement capabilities

Sebastian Gustafsson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Christian Fager (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Koen Buisman (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik) ; Mattias Thorsell (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik)
2016 87th ARFTG Microwave Measurement Conference (2016)
[Konferensbidrag, refereegranskat]

In this paper, a wideband RF characterization setup with low-frequency (LF) measurement capabilities is presented. Simultaneous LF and RF measurements enable studies of trapping phenomena, thermal effects and other LF-related nonlinear distortion in microwave devices using realistic wideband RF stimuli. The setup is capable of measuring up to 4 GHz through the RF path, and from DC to 125 MHz through the LF path. A study is made on how device linearity is affected by the choice of power supply unit (PSU). LF measurements reveal significant differences in baseband termination in the PSUs, consequently affecting the linearity of the measured RF output spectrum.

Nyckelord: Radio frequency, Voltage measurement, Baseband, Frequency measurement, Wideband, Current measurement



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2016-10-09. Senast ändrad 2017-01-16.
CPL Pubid: 243096

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)