CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Electro-optic dual-comb interferometry over 40-nm bandwidth

Vicente Andrés Durán Bosch (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Peter Andrekson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik) ; Victor Torres Company (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik)
Optics Letters (0146-9592). Vol. 41 (2016), 18, p. 4190-4193.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

Dual-comb interferometry is a measurement technique that uses two laser frequency combs to retrieve complex spectra in a line-by-line basis. This technique can be implemented with electro-optic frequency combs, offering intrinsic mutual coherence, high acquisition speed and flexible repetition-rate operation. A challenge with the operation of this kind of frequency comb in dual-comb interferometry is its limited optical bandwidth. Here, we use coherent spectral broadening and demonstrate electro-optic dual-comb interferometry over the entire telecommunications C band (200 lines covering ~ 40 nm, measured within 10 microseconds at 100 signal-to-noise ratio per spectral line). These results offer new prospects for electro-optic dual-comb interferometry as a suitable technology for high-speed broadband metrology, for example in optical coherence tomography or coherent Raman microscopy.



Den här publikationen ingår i följande styrkeområden:

Läs mer om Chalmers styrkeområden  

Denna post skapades 2016-09-19. Senast ändrad 2016-10-25.
CPL Pubid: 241937

 

Läs direkt!

Lokal fulltext (fritt tillgänglig)

Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)




Projekt

Denna publikation är ett resultat av följande projekt:


Phase-sensitive optical parametric amplifiers (PSOPA) (EC/FP7/291618)