CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

New method for determination of the peak-velocity in epitaxial semiconductor structures by dc measurements on microbridges

W. Strupinski ; Herbert Zirath (Institutionen för mikrovågsteknik) ; Hans Grönqvist (Institutionen för mikrovågsteknik) ; Niklas Rorsman (Institutionen för mikrovågsteknik)
Applied Physics Letters (0003-6951). Vol. 59 (1991), 24, p. 3151-3153.
[Artikel, refereegranskad vetenskaplig]

A simple current-voltage measurement technique using microbridge patterns is described as a fast method for the determination of the effective peak electron velocity in III-V semiconducting materials. The method is tested for GaAs samples. Microbridge patterns with different geometries were investigated and the influence of ''self-heating'' by power dissipation was examined. Some other potential sources of errors deteriorating the accuracy of measurements were determined.



Denna post skapades 2016-09-12.
CPL Pubid: 241665

 

Läs direkt!


Länk till annan sajt (kan kräva inloggning)


Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikrovågsteknik (1900-2003)

Ämnesområden

Informations- och kommunikationsteknik
Materialvetenskap
Nanovetenskap och nanoteknik
Fysik
Halvledarfysik
Elektroteknik och elektronik
Elektrofysik

Chalmers infrastruktur