CPL - Chalmers Publication Library
| Utbildning | Forskning | Styrkeområden | Om Chalmers | In English In English Ej inloggad.

Low Cycle Fatigue Behavior of Sn-4.0Ag-0.5Cu Lead-free in Corrosive Environmental Conditions

Cristina Andersson (Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik)
Proceedings of the 1st IEEE CPMT Electronics Systemintegration Technology Conference (ESTC2006), September 5-7, 2006, Dresden, Germany (2006)
[Konferensbidrag, refereegranskat]


Denna post skapades 2007-01-15.
CPL Pubid: 23891

 

Institutioner (Chalmers)

Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik (2003-2006)

Ämnesområden

Övrig teknisk materialvetenskap

Chalmers infrastruktur

Relaterade publikationer

Denna publikation ingår i:


Reliability, fatigue and mechanical characterization of lead-free solders for electronic packaging applications